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华海清科请求金属膜厚度丈量相关专利进步金属膜厚度查验测验精度发布时间:2025-03-18 |   作者: 案例展示

  金融界2024年12月21日音讯,国家知识产权局信息数据显现,华海清科股份有限公司请求一项名为“金属膜厚度丈量办法、设备、设备、抛光办法和存储介质”的专利,揭露号 CN 119153351 A,请求日期为2024年11月。

  专利摘要显现,本请求揭露金属膜厚度丈量办法、设备、设备、抛光办法和存储介质,金属膜厚度丈量办法有:经过电涡流传感器对晶圆片上金属膜的厚度进行细心的检测,取得电涡流传感器输出的量测信号;获取量测温度;依据量测信号和基值信号,取得量测厚度值;依据量测温度和基值温度,取得厚度补偿值;依据量测厚度值和厚度补偿值,确认金属膜的厚度。本请求经过查验测验晶圆片上金属膜的厚度时的量测温度及基值温度,确认对电涡流传感器查验测验取得的量测信号进行补偿的厚度补偿值,可以将电涡流传感器遭到工作环境和温度影响在很大程度上消除,从而进步了金属膜厚度查验测验的精度。

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